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dc.contributor.authorLópez García, José María
dc.contributor.authorGómez Lopera, Salvador Angel
dc.date.accessioned2018-02-27T11:31:58Z
dc.date.available2018-02-27T11:31:58Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.isbn978-84-617-4180-9
dc.identifier.urihttp://dspace.aeipro.com/xmlui/handle/123456789/905
dc.descriptionSe han fabricado fotoelectrodos de 18.75cm2 de superficie y muy baja resistencia superficial. El método de fabricación fue el de pirólisis del espray o pulverización de la disolución de partida, que contiene iones de Sn2+ y F-. Se creció una película delgada de dióxido de estaño dopado con flúor (SnO2:F) sobre sustratos de vidrio delgados (1.2mm de espesor). Se obtuvieron fotoelectrodos empleando diferentes porcentajes en masa del elemento dopante (0%, 10%, 15%, 16%, 19% y 20% [F]/[Sn]). Las muestras se han caracterizado morfológicamente, se ha estudiado su composición química y sus propiedades ópticas y eléctricas. La película crecida sobre el sustrato de vidrio es dióxido de estaño de gran pureza con cristalización tetragonal rutilo y grupo espacial D144hP42/mnm. Las imágenes SEM muestran una superficie relativamente homogénea, poca rugosidad y espesor de 500nm. Además, la rugosidad disminuye conforme aumenta el nivel de dopado. Las fotoventanas son muy transparentes a la luz visible(400-800nm), con una transmitancia óptica del 85% y una absorbancia de 0.25au. El mejor valor de resistencia superficial de la capa conductora, correspondiente al 16% de dopado, es 3Ωcm-2, resultado que mejora los obtenidos por otros autores, la resistividad (12+-6)x10^-5Ωm y la densidad de 2.45x10^4kgm^3.es_ES
dc.description.abstractIn this work relatively large size photoelectrodes (18.75cm^2 of surface) and very low sheet resistance has been manufactured. The manufacturing method was the spray pyrolysis of a solution containing Sn2+ and F- ions. It was grown a thin film of tin dioxide doped with fluorine (SnO2:F) on thin glass substrates (1.2 mm thick). Different photoelectrodes using various mass doping element percentages (0%, 10%, 15%, 16%, 19% and 20% [F]/[Sn]). The samples were characterized morphologically and studied their chemical composition and optical and electrical properties. The results show that the film grown on glass substrate is high purity tin dioxide with crystallization in the tetragonal rutile system and spatial group D144h(P42/mnm). SEM pictures show a relatively smooth surface, little roughness and thickness about 500 nm. Moreover, the roughness decreases as the doping level. The photowindows are very transparent to visible light (400-800 nm), with optical transmittance about 85 % and absorbance about 0.25au. The best value of sheet resistance of the conductive layer, for a doping of 16%, is around 3 Ω cm^-2, improving results reported by other authors, the resistivity (12+-6)x10^-5Ωm and the density 2.45x10^4 kgm^3.es_ES
dc.language.isoeses_ES
dc.subjectEficiencia Energética y Energías Renovableses_ES
dc.titleFABRICACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE FOTOELECTRODOS TRANSPARENTES ALTAMENTE CONDUCTORES Y DE GRAN TAMAÑO PARA PRODUCCIÓN DE ENERGÍA FOTOVOLTAICA Y ALMACENAMIENTO.es_ES
dc.title.alternativeMANUFACTURING CHARACTERIZATION OF LARGE SIZE TRANSPARENT PHOTOELECTRODES WITH HIGH CONDUCTIVITY TO BE USED IN PHOTOVOLTAIC ENERGY PRODUCTION AND ENERGY STORAGEes_ES
dc.typeArticlees_ES


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    XX Congreso Internacional de Dirección e Ingeniería de Proyectos (Cartagena 2016)

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